基于多信号模型的可测性分析技术研究
多信号模型论文 可测性分析论文 测试序列优化论文
论文详情
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-15页 |
| 1.1 可测性分析的研究目的和意义 | 第8-9页 |
| 1.2 可测性分析的国内外研究现状 | 第9-13页 |
| 1.2.1 可测性分析在可测性技术中的地位 | 第9-10页 |
| 1.2.2 数字电路的可测性分析技术的发展现状 | 第10-11页 |
| 1.2.3 模拟电路的可测性分析的发展现状 | 第11页 |
| 1.2.4 混合信号电路的可测性分析的发展现状 | 第11-13页 |
| 1.3 可测性分析的发展趋势 | 第13页 |
| 1.4 课题的来源与意义 | 第13-14页 |
| 1.5 主要研究内容 | 第14-15页 |
| 第2章 多信号模型可测性分析方法的基本原理 | 第15-29页 |
| 2.1 可测性评价体系 | 第15-18页 |
| 2.1.1 可测性分析的基本概念 | 第15-16页 |
| 2.1.2 可测性评价指标 | 第16-18页 |
| 2.2 多信号模型的建立 | 第18-25页 |
| 2.2.1 多信号模型的组成 | 第18-20页 |
| 2.2.2 多信号模型的图形表示 | 第20-21页 |
| 2.2.3 模型建立步骤 | 第21-22页 |
| 2.2.4 模型建立举例 | 第22-25页 |
| 2.3 多信号模型可测性分析流程 | 第25-28页 |
| 2.3.1 故障测试相关矩阵 | 第25-27页 |
| 2.3.2 故障特性分析 | 第27-28页 |
| 2.3.3 可测性指标的计算 | 第28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 基于多信号模型可测性分析体系的研究 | 第29-44页 |
| 3.1 多信号模型可测性分析体系 | 第29-30页 |
| 3.2 反馈环分析 | 第30-34页 |
| 3.2.1 反馈环的影响与测试局限性 | 第30-33页 |
| 3.2.2 反馈环的识别算法 | 第33-34页 |
| 3.3 基于多信号模型的可测性设计 | 第34-36页 |
| 3.4 基于多信号模型的测试序列优化问题 | 第36-43页 |
| 3.4.1 故障诊断树与测试序列优化 | 第36-37页 |
| 3.4.2 全局权值优化算法的研究 | 第37-40页 |
| 3.4.3 全局权值优化算法与局部优化法的比较 | 第40-43页 |
| 3.5 本章小结 | 第43-44页 |
| 第4章 多信号模型可测性分析软件的设计 | 第44-56页 |
| 4.1 可测性分析软件总体设计 | 第44-47页 |
| 4.1.1 软件功能设计方案 | 第44-45页 |
| 4.1.2 软件界面设计方案 | 第45-47页 |
| 4.2 可测性分析软件的详细设计 | 第47-54页 |
| 4.2.1 数据结构设计 | 第47-49页 |
| 4.2.2 可视化模建平台的设计 | 第49-52页 |
| 4.2.3 可测性分析模块的设计与算法实现 | 第52-54页 |
| 4.3 可测性分析软件的数据库系统 | 第54-55页 |
| 4.4 本章小结 | 第55-56页 |
| 第5章 数据采集系统的可测性分析 | 第56-69页 |
| 5.1 数据采集器的性能指标分析 | 第56-58页 |
| 5.2 数据采集器可测性的初步分析 | 第58-62页 |
| 5.3 数据采集器的可测性设计 | 第62-65页 |
| 5.4 数据采集器的测试序列优化 | 第65-68页 |
| 5.4.1 故障检测测试序列的优化选择 | 第65-67页 |
| 5.4.2 故障隔离测试序列的优化选择 | 第67-68页 |
| 5.4.3 制定诊断策略 | 第68页 |
| 5.5 本章小结 | 第68-69页 |
| 结论 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第73-75页 |
| 致谢 | 第75页 |
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