| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 集成电路测试概述 | 第10-11页 |
| 1.1.1 集成电路测试的定义 | 第10页 |
| 1.1.2 集成电路测试的种类 | 第10-11页 |
| 1.1.3 模拟集成电路测试 | 第11页 |
| 1.2 课题背景 | 第11-15页 |
| 1.2.1 国内外集成电路产业发展概况 | 第11-13页 |
| 1.2.1.1 国外集成电路产业发展概况 | 第11-12页 |
| 1.2.1.2 国内集成电路产业发展现状 | 第12-13页 |
| 1.2.2 国内外集成电路测试系统的发展现状 | 第13-15页 |
| 1.2.2.1 国外集成电路测试技术发展概况 | 第13-14页 |
| 1.2.2.2 国内集成电路测试技术发展概况 | 第14-15页 |
| 1.3 课题来源及主要研究工作 | 第15-17页 |
| 1.3.1 课题来源 | 第15页 |
| 1.3.2 课题研究意义 | 第15页 |
| 1.3.3 论文研究内容 | 第15-17页 |
| 第二章 方案设计及原理分析 | 第17-27页 |
| 2.1 CEF-100 集成电路测试仪介绍 | 第17-19页 |
| 2.1.1 CEF-100 集成电路测试仪功能 | 第17页 |
| 2.1.2 CEF-100 集成电路测试仪组成结构 | 第17-19页 |
| 2.2 IAB 板的功能及其指标要求 | 第19-20页 |
| 2.3 IAB 板总体方案设计 | 第20-23页 |
| 2.4 工作原理分析 | 第23-26页 |
| 2.4.1 加压测流方式（FVMI） | 第23-25页 |
| 2.4.2 加流测压方式（FIMV） | 第25-26页 |
| 2.5 小结 | 第26-27页 |
| 第三章 浮地测量技术的研究与实现 | 第27-37页 |
| 3.1 浮地技术的概念及意义 | 第27-28页 |
| 3.2 浮地技术的实现 | 第28-30页 |
| 3.2.1 电源隔离 | 第28-29页 |
| 3.2.2 数字接口信号的隔离 | 第29-30页 |
| 3.2.3 被测模拟信号的隔离 | 第30页 |
| 3.3 IAB 板中浮地测量的设计 | 第30-36页 |
| 3.3.1 IAB 板电源隔离及滤波设计 | 第30-33页 |
| 3.3.1.1 有源滤波器的设计 | 第31-32页 |
| 3.3.1.2 LC 滤波器的设计 | 第32-33页 |
| 3.3.2 IAB 板信号隔离设计 | 第33-36页 |
| 3.3.2.1 光电隔离输入驱动设计 | 第33-34页 |
| 3.3.2.2 光电隔离输出设计 | 第34-36页 |
| 3.4 小结 | 第36-37页 |
| 第四章 硬件电路设计 | 第37-58页 |
| 4.1 D/A 转换电路的设计 | 第37-41页 |
| 4.1.1 LTC1595 工作原理 | 第37-38页 |
| 4.1.2 LTC1595 电流电压转换设计 | 第38-40页 |
| 4.1.3 LTC1595 三线SPI 接口控制逻辑设计 | 第40-41页 |
| 4.2 A/D 采样电路设计 | 第41-45页 |
| 4.2.1 ADS7809 特点及工作原理 | 第41-42页 |
| 4.2.2 ADS7809 硬件电路设计 | 第42-43页 |
| 4.2.3 ADS7809 控制逻辑的设计 | 第43-45页 |
| 4.3 电流电压施加测量电路设计 | 第45-46页 |
| 4.4 电流电压施加电路稳定性分析 | 第46-51页 |
| 4.4.1 运放的频率特性 | 第46-47页 |
| 4.4.2 运放自激振荡的原因及条件 | 第47-48页 |
| 4.4.3 反馈放大器稳定性判据 | 第48-49页 |
| 4.4.4 IAB 板施加电路模型及稳定性 | 第49-50页 |
| 4.4.5 补偿电路设计 | 第50-51页 |
| 4.5 FPGA 控制电路设计 | 第51-57页 |
| 4.5.1 FPGA 控制电路的硬件设计 | 第52-54页 |
| 4.5.1.1 FPGA 芯片选择 | 第52页 |
| 4.5.1.2 FPGA 电源设计 | 第52-53页 |
| 4.5.1.3 EP1C6Q240 主动下载电路设计 | 第53-54页 |
| 4.5.2 控制逻辑设计 | 第54-57页 |
| 4.5.2.1 顶层模块设计 | 第54-55页 |
| 4.5.2.2 地址译码模块设计 | 第55页 |
| 4.5.2.3 IO 读写电路的设计 | 第55-57页 |
| 4.5.2.4 D/A 和A/D 转换逻辑 | 第57页 |
| 4.6 小结 | 第57-58页 |
| 第五章 驱动程序和调试软件设计 | 第58-65页 |
| 5.1 I/O 接口层设计 | 第59-60页 |
| 5.2 仪器驱动层程序设计 | 第60-63页 |
| 5.3 应用层软件设计 | 第63-64页 |
| 5.4 小结 | 第64-65页 |
| 第六章 系统调试、误差分析及校准 | 第65-73页 |
| 6.1 IAB 模块的调试平台及调试方法 | 第65-67页 |
| 6.1.1 调试平台的搭建 | 第65页 |
| 6.1.2 调试方法介绍 | 第65-67页 |
| 6.1.2.1 FVMI（加压测流）调试 | 第66页 |
| 6.1.2.2 FIMV（加流测压）调试 | 第66-67页 |
| 6.2 测试结果及静态误差分析 | 第67-68页 |
| 6.3 静态误差校准 | 第68-72页 |
| 6.4 动态性能分析 | 第72页 |
| 6.5 小结 | 第72-73页 |
| 结论与展望 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-77页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第77-78页 |
