高密度电阻率法模型正演与实验对比

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高密度电阻率法属于直流电阻率法的范畴,是在常规电法勘探基础上发展起来的一种勘探方法。高密度电阻率法采取较密集的测点以及多种装置的组合同时测量,可提供丰富的地电信息,有利于数据资料的处理与解释。电阻率成像技术是利用采集的视电阻率数据资料,进行正反演成像研究的一种技术。在本论文里高密度电法微观系统采集的视电阻率数据是利用电阻率成像技术成像。对于电阻率成像技术的研究和应用,前人已做了大量的工作。本文总结了前人关于电阻率成像技术的概念、研究历史及研究成果,在此基础上,以电阻率成像技术二维正演为手段,对理论模型进行正演数值模拟研究,得到模型的视电阻率数据。然后在实验室对理论模型通过高密度电法微观系统进行物理模拟,得到视电阻率。数值模拟和物理模拟得到的视电阻率数据利用电阻率成像技术得到视电阻率成像色谱图,然后进行对比分析,给出了以下结论:1、温纳装置、偶极装置、微分装置在实测中分别在反映高、低组水平产状体和高阻直立产状体相对正演模型下移了总层数20%,所以在实际的资料解释或处理时可以适当减小异常区域在图中的最大勘探深度20%;在反映低阻直立产状体相对正演模型上移了总层数30%,所以在资料解释时相反可以加大最大勘探深度30%。2、温纳装置、偶极装置、微分装置在实测中在反映水平产状体时相对正演模型异常区域在纵向上有所拉伸,所以在实际的资料解释或处理时可以适当减小异常区域在图中的厚度;而在反映直立产状体时异常区域在横向拉伸,在实际的资料解释或处理时可以适当减小异常区域在图中的长度。3、通过正演模型和实测的成像图相似性的对比可以推导出温纳装置对高阻水平产状体的勘探效果较好,对于低阻直立产状体的勘探效果较差;偶极装置对于高、低阻直立产状体和低阻水平产状体的勘探效果较好。通过以上得出的结论,使得对高密度电阻率法不同装置的勘探能力及其所形成的视电阻率断面异常形态有了更充分的认识,这对野外装置的选择、资料的处理和解释有很大的帮助。
摘要第4-6页
ABSTRACT第6-7页
第1章 前言第10-15页
    1.1 选题依据及研究意义第10-11页
    1.2 电阻率成像技术国内外研究进展第11-14页
        1.2.1 电阻率成像技术(RT)的基本概念第11页
        1.2.2 电阻率成像技术的历史第11-12页
        1.2.3 电阻率成像二维正演数值模拟的研究发展第12-13页
        1.2.4 电阻率成像技术的发展趋势第13-14页
    1.3 研究内容第14-15页
第2章 电阻率成像技术的二维正演第15-26页
    2.1 电阻率法的基本原理第15-16页
    2.2 视电阻率的基本概念第16-18页
    2.3 二维问题的视电阻率第18-19页
    2.4 电阻率成像技术的正演理论第19-26页
        2.4.1 有限元的基本思想第20页
        2.4.2 基本方程第20页
        2.4.3 稳定电流场的变分问题第20-21页
        2.4.4 区域离散化第21-22页
        2.4.5 线性插值第22-23页
        2.4.6 变分问题离散化第23-24页
        2.4.7 线性方程组的解法第24页
        2.4.8 反傅氏变换的计算第24-25页
        2.4.9 视电阻率及其定性分析方法第25-26页
第3章 高密度电阻率法第26-34页
    3.1 高密度电阻率法相对传统电法的特点第26页
    3.2 基本方法原理第26-29页
        3.2.1 场所满足的偏微分方程式第26-27页
        3.2.2 三电位电极系第27-28页
        3.2.3 视参数及其特点第28-29页
    3.3 高密度电阻率法的数据处理第29-32页
        3.3.1 正演计算第29-30页
        3.3.2 反演计算第30-32页
    3.4 高密度电阻率法所存在的问题第32-34页
        3.4.1 深度问题第32页
        3.4.2 排列装置选择和电极极距选择问题第32页
        3.4.3 资料处理与资料解释第32-34页
第4章 模型正演与实验结果对比第34-50页
    4.1 低阻水平板状体模型第34-38页
    4.2 低阻直立板状体模型第38-42页
    4.3 高阻直立板状体模型第42-46页
    4.4 高阻水平板状体模型第46-49页
    4.5 小结第49-50页
结论第50-51页
致谢第51-52页
参考文献第52-55页
攻读学位期间取得学术成果第55页
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