| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 致谢 | 第7-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-27页 |
| 1.1 论文研究的背景 | 第12-14页 |
| 1.2 论文研究的意义 | 第14-17页 |
| 1.3 废弃液晶显示屏中液晶再资源化研究现状 | 第17-25页 |
| 1.3.1 国内现状 | 第18-23页 |
| 1.3.2 国外现状 | 第23-25页 |
| 1.3.3 现有回收方法总结 | 第25页 |
| 1.4 论文的主要工作及论文研究内容 | 第25-27页 |
| 1.4.1 论文的选题 | 第25页 |
| 1.4.2 论文的研究内容 | 第25-26页 |
| 1.4.3 论文的结构安排 | 第26-27页 |
| 第二章 液晶显示简介 | 第27-34页 |
| 2.1 液晶材料简介 | 第27-28页 |
| 2.1.1 液晶材料的发展 | 第27页 |
| 2.1.2 液晶材料的分类 | 第27-28页 |
| 2.2 液晶显示种类 | 第28-29页 |
| 2.3 液晶显示屏结构及其制造工艺 | 第29-33页 |
| 2.3.1 液晶显示屏结构 | 第29-30页 |
| 2.3.2 液晶显示屏制造工艺 | 第30-33页 |
| 2.4 本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 超临界流体技术回收液晶的方法研究 | 第34-40页 |
| 3.1 超临界流体技术简介 | 第34-35页 |
| 3.1.1 超临界CO_2流体的特性 | 第34页 |
| 3.1.2 超临界CO_2萃取的特点 | 第34-35页 |
| 3.2 超临界CO_2流体回收液晶材料的原理 | 第35页 |
| 3.3 超临界CO_2流体回收液晶材料的影响因素 | 第35-36页 |
| 3.3.1 内在因素 | 第35-36页 |
| 3.3.2 外在因素 | 第36页 |
| 3.4 超临界CO_2流体回收液晶的试验系统和工艺流程 | 第36-38页 |
| 3.4.1 超临界CO_2流体回收液晶的试验系统 | 第36-37页 |
| 3.4.2 超临界CO_2流体回收液晶的工艺流程 | 第37-38页 |
| 3.5 超临界CO_2流体回收液晶的优缺点分析 | 第38-39页 |
| 3.5.1 优点分析 | 第38-39页 |
| 3.5.2 缺点分析 | 第39页 |
| 3.6 本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 超声波辅助有机溶剂回收液晶的试验研究 | 第40-46页 |
| 4.1 超声波提取的原理和特点 | 第40-41页 |
| 4.1.1 超声波提取的原理 | 第40页 |
| 4.1.2 超声波提取的特点 | 第40-41页 |
| 4.2 有机溶剂与面板内部化学物质溶解特性分析 | 第41-42页 |
| 4.3 试验设备与方法 | 第42-44页 |
| 4.3.1 主要设备与试剂 | 第42页 |
| 4.3.2 试验方法 | 第42-44页 |
| 4.4 结果与分析 | 第44-45页 |
| 4.4.1 提取条件优化 | 第44-45页 |
| 4.4.2 液晶回收率计算 | 第45页 |
| 4.5 本章小结 | 第45-46页 |
| 第五章 回收液晶性能参数的检测 | 第46-54页 |
| 5.1 相变分析和清亮点检测 | 第46-48页 |
| 5.1.1 液晶相分析 | 第46-47页 |
| 5.1.2 相变曲线检测 | 第47-48页 |
| 5.2 光电性能检测 | 第48-51页 |
| 5.2.1 阈值电压与饱和电压检测 | 第49-50页 |
| 5.2.2 响应时间检测 | 第50-51页 |
| 5.3 介电常数和折射率检测 | 第51-52页 |
| 5.3.1 介电常数各向异性检测 | 第51页 |
| 5.3.2 折射率各向异性检测 | 第51-52页 |
| 5.4 纯度检测 | 第52页 |
| 5.5 离子浓度检测 | 第52-53页 |
| 5.6 回收液晶与纯液晶的性能参数比较 | 第53页 |
| 5.7 本章小结 | 第53-54页 |
| 第六章 总结与展望 | 第54-56页 |
| 6.1 总结 | 第54-55页 |
| 6.2 展望 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-60页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和专利 | 第60页 |
| 攻读硕士学位期间参与的科研项目 | 第60页 |
