摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
目录 | 第8-11页 |
第1章 绪论 | 第11-23页 |
1.1 CMOS工艺简介及演进状况 | 第11-14页 |
1.2 工艺演进对电路的影响 | 第14-17页 |
1.3 数字电路和模拟/射频电路之间的联系 | 第17-19页 |
1.4 一种解决方案:数字增强技术 | 第19页 |
1.5 本文的组织结构 | 第19-20页 |
参考文献 | 第20-23页 |
第2章 数字增强技术的设计方法 | 第23-37页 |
2.1 技术理念 | 第23-27页 |
2.2 设计方法学 | 第27-35页 |
2.2.1 模拟电路非线性建模 | 第28-31页 |
2.2.2 数字域补偿非线性的方法 | 第31-32页 |
2.2.3 非线性参数的自适应及跟踪 | 第32-34页 |
2.2.4 模拟-数字电路协同设计/仿真 | 第34-35页 |
参考文献 | 第35-37页 |
第3章 射频功率放大器的数字预失真技术 | 第37-99页 |
3.1 射频收发机和功率放大器介绍 | 第37-43页 |
3.1.1 射频收发机 | 第37-38页 |
3.1.2 功率放大器及设计折衷 | 第38-42页 |
3.1.3 射频发射机的线性度指标 | 第42-43页 |
3.2 射频功率放大器非线性行为建模 | 第43-49页 |
3.2.1 无记忆的功率放大器非线性模型 | 第43-47页 |
3.2.2 带记忆效应的非线性模型 | 第47-49页 |
3.3 功放线性化技术回顾 | 第49-57页 |
3.3.1 前馈技术 | 第49-50页 |
3.3.2 正交反馈技术 | 第50-51页 |
3.3.3 包络移除-恢复技术与包络跟踪技术 | 第51-53页 |
3.3.4 使用非线性器件的线性放大技术 | 第53-54页 |
3.3.5 Doherty功率放大器 | 第54-55页 |
3.3.6 数字预失真技术 | 第55-57页 |
3.4 一种带延时补偿的快速自适应的数字预失真算法 | 第57-77页 |
3.4.1 数字预失真技术回顾 | 第58-60页 |
3.4.2 基于多层查找表的预失真算法 | 第60-64页 |
3.4.3 自适应环路延时补偿算法 | 第64-71页 |
3.4.4 仿真结果 | 第71-77页 |
3.5 利用数字增强技术的射频发射机设计考虑 | 第77-88页 |
3.5.1 残留失真问题 | 第78-79页 |
3.5.2 发射机和反馈接收 | 第79-80页 |
3.5.3 其他非理想性及处理 | 第80-83页 |
3.5.4 基于2-维多层查找表的发射机预失真器 | 第83-88页 |
3.6 数字增强的发射机原型设计及测试结果 | 第88-94页 |
3.6.1 发射机原型设计 | 第88-89页 |
3.6.2 测试结果 | 第89-94页 |
参考文献 | 第94-99页 |
第4章 流水线ADC的数字校正技术 | 第99-141页 |
4.1 流水线ADC介绍 | 第99-105页 |
4.2 流水线ADC非线性建模 | 第105-112页 |
4.3 CMOS工艺演进对流水线ADC的影响 | 第112-113页 |
4.4 ADC校正技术回顾 | 第113-125页 |
4.4.1 准后台校正技术 | 第114-115页 |
4.4.2 参考ADC校正技术 | 第115-116页 |
4.4.3 双通道互校正技术 | 第116-118页 |
4.4.4 利用伪随机噪声的校正技术 | 第118-122页 |
4.4.5 基于信号统计特征的校正技术 | 第122页 |
4.4.6 基于频谱扩展的校正技术 | 第122-123页 |
4.4.7 系统嵌入式校正技术 | 第123-125页 |
4.5 一种基于虚拟通道的ADC后台校正技术 | 第125-130页 |
4.5.1 虚拟通道方法介绍 | 第125-127页 |
4.5.2 数字预测器 | 第127-128页 |
4.5.3 在流水线ADC中的应用 | 第128-130页 |
4.5.4 与其他校正方法的比较 | 第130页 |
4.6 仿真实验结果 | 第130-137页 |
4.6.1 行为级仿真结果 | 第130-134页 |
4.6.2 电路级仿真的初步结果 | 第134-137页 |
参考文献 | 第137-141页 |
第5章 结论与未来展望 | 第141-145页 |
参考文献 | 第143-145页 |
附录A | 第145-147页 |
附录B | 第147-149页 |
致谢 | 第149-151页 |
在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第151-153页 |