基于特征辨识的MOSFET健康状态评估模型研究

MOSFET论文 多物理场耦合论文 焊料层失效论文 外特征参量论文
论文详情
中文摘要第3-5页
英文摘要第5-6页
1 绪论第9-19页
    1.1 课题背景及研究意义第9-11页
    1.2 国内外研究现状分析第11-16页
        1.2.1 功率器件失效机理研究现状第11-13页
        1.2.2 功率器件状态监测与评估研究现状第13-15页
        1.2.3 不同状态监测方法的比较分析第15-16页
    1.3 本文主要研究内容第16-19页
2 基于多场耦合的MOSFET器件失效机理分析第19-35页
    2.1 引言第19-20页
    2.2 功率MOSFET电-热-力耦合场模型第20-23页
        2.2.1 功率MOSFET封装结构概述第20-21页
        2.2.2 多物理场模型求解与实现第21-23页
    2.3 MOSFET多物理场有限元模型的建立第23-29页
        2.3.1 材料属性参数设置第23-27页
        2.3.2 多物理场耦合模型载荷与边界条件设定第27-28页
        2.3.3 MOS器件有限元仿真模型有效性验证第28-29页
    2.4 功率循环条件下的焊料层失效机理分析第29-32页
    2.5 本章小结第32-35页
3 MOSFET器件的特征参量辨识第35-51页
    3.1 引言第35页
    3.2 器件在不同失效形式下的特征参量特性分析第35-46页
        3.2.1 焊料层空洞对器件电热力特性的影响第36-40页
        3.2.2 焊料层疲劳分层对器件电热特性的影响第40-44页
        3.2.3 键合引线脱落程度对器件电热特性的影响第44-46页
    3.3 焊料层老化失效的特征参量辨识第46-49页
        3.3.1 特征参量甄选及其灵敏性分析第46-48页
        3.3.2 特征参量样本数据获取第48-49页
    3.4 本章小结第49-51页
4 功率MOSFET状态监测与评估模型研究第51-71页
    4.1 引言第51-52页
    4.2 基于特征参量的MOSFET健康状态评估模型第52-60页
        4.2.1 基于智能算法的功率器件状态评估模型第52-53页
        4.2.2 ANFIS算法原理及系统结构第53-54页
        4.2.3 基于ANFIS算法的状态评估模型构建第54-59页
        4.2.4 评估模型结果分析第59-60页
    4.3 基于有限元仿真的状态评估模型有效性验证第60-64页
        4.3.1 常用智能算法分析比较第60-61页
        4.3.2 基于焊料层不同损伤类型的状态评估第61-62页
        4.3.3 基于器件不同运行工况的状态评估第62-64页
    4.4 基于MOSFET器件的工程应用试验第64-70页
        4.4.1 DC-DC变流器试验平台搭建第64-69页
        4.4.2 状态监测的工程化方案第69-70页
    4.5 本章小结第70-71页
5 结论与展望第71-73页
    5.1 主要结论第71-72页
    5.2 工作展望第72-73页
致谢第73-75页
参考文献第75-81页
附录第81页
    A.作者在攻读硕士学位期间发表的论文目录第81页
    B.作者在攻读硕士学位期间参与的科研项目第81页
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